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顯微粒度檢測系統 DLM-300C(全自動顯微粒度分析儀） 

一、應用范圍：

    蔡康顯微粒度檢測系統DLM-300C適用于金剛石、碳化硅、藥粉、石墨、磨料、陶瓷、硅灰石、金屬粉、碳粉、涂料、水泥、硬質合金、催化劑、云母粉、填料等需要進行粒度分析和質量控制的各種粉末物料顆粒的形貌觀察和粒度分析,一般可把微小顆粒放大到幾千倍進行顯微觀察和粒度分析。 

二、蔡康DLM-300C粒度分析儀性能特點和系統組成：

1. DLM-300C顆粒圖像分析儀利用工業級彩色高速攝象器進行圖像或者視頻采集，高倍蔡康光學顯微鏡放大成像，圖像快速顯示于計算機，直接實時觀察顆粒形貌，利用專用軟件進行顆粒數據處理，形態統計分析。

2. 粒度測量范圍：0.5μm～5000μm

3. 接口方式：USB連接。

4. 平場消色差物鏡，最大分辨率0.07微米，最大光學放大倍數1600倍，打印最大倍數4000倍(A4幅面)。

5. 供等面積和等周長兩種基準下的個數、直徑、面積、體積、圓形度等分布數據。同時提供顆粒數、D10、D50、D90、平均粒徑、表面積、長徑比等粒度分布數據，配有(30)多種圖像分析和處理功能，可以滿足各種圖像處理需要。

6. 對采集的圖像進行調整高度、寬度、亮度、對比度、濾波、填充等，提高分析分辨率，網格標注顆粒尺寸等功能，使測試結果更真實可靠。

7. 儀器分二種型號，技術原理、參數都相同，DLM-200C型顆粒圖像分析儀配置高檔透射生物顯微鏡，DLM-300C型顆粒圖像分析儀配置高檔透反射金相顯微鏡，DLM-300C還可用于陶瓷、金屬等各種不透光物體表面晶形的觀察分析或者金相平均晶粒度分析，也可以用于汽車表面鍍層顆粒均勻度分析。

8. 顆粒形貌圖像可存盤和打印，還可輸出多種格式的測試報告。另可根據行業特殊要求，設計磨料、硅灰石等專用軟件。 
 圖像分析處理功能

1. 色調處理：負像、灰度化、色調調整、亮度、對比度調整；

2. 圖像矯正：水平鏡像、垂直鏡像、90度（逆時針)、90度(順時針) 、旋轉、放大、縮小任意比例縮放等；

3. 測量單位：微米、毫米、厘米、英吋任選；

4. 圖像增強：對比度均衡、膨脹、腐蝕等；

5. 圖像處理：圖像銳化，邊緣平滑，二值化，邊界濾波，分析目標擦除、孔洞填充，手工擦除，手工連接，粒子屬性查看、設置標尺、網格等功能；

6. 分析參數： （1）幾何參數：每個顆粒的質心 X、Y 坐標位置，像素；
（2）當量幾何參數：等面積圓直徑，等周長圓直徑，長徑，短徑，長徑比；
（3）外接幾何參數：每個顆粒的外接圓直徑；
（4）光密度參數：圖像 R、G、B、灰度分布；
（5）形態學參數：長徑比，圓度系數；

三、蔡康粒度檢測儀特點和參數指標

1）選擇相應的粒度分析標準
2）裝入需要分析的粒度圖片
3）粒度分析計算自動測定
·粒度圖片： 采集及處理后的粒度圖片，顯示在界面的左上方；提取的顆粒顯示在界面右上方。
·取色：用“吸管”工具，可在左邊“粒度圖片”上提取六種以內的顏色，該顏色部分將被認為是“顆?！?。
·圖像處理：
“ 1、裝入圖像”：裝入需要處理的粒度圖片。
“提取算法 – 相似算法”：按RGB的閾值提取選種顏色對象。 
“提取算法 – 同色算法”：除滿足上述條件之外，還要滿足“色系”的要求。 
“取色方式 – 添加新色彩”：可選擇多種顏色（6種以內）。 
“取色方式 – 覆蓋已取色”：只能選擇一種顏色。 
“2、色域提取”：按上述算法提取對象，提取閾值越大，選擇范圍越大。
“3、去除雜點”：雜點閾值越大，去除的雜點顆粒越大。 
“4、空域修補”：修補閾值越大，修補的孔隙越大。 
“5、色彩還原”：選取部分還原原始圖像色彩。 
上述工作完成后，“顆粒數量”將被自動計算出來。 
4. 顆粒分析： 選取被認為是“粒度顆?！钡纳?，按上述方法對圖像進行處理，用“顆粒分析”方法提取“粒度顆粒”部分，被提取的顆粒幾何參數將在列表框中顯示。軟件將面積在“目標搜索”中“最小面積”和“最大面積”之間的顆粒視為“粒度顆?！眮硖幚?。統計相關數據在“級別評定”欄目中顯示。
5）適用標準：企業標準、行業標準或自定義標準。